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Laurea triennale in Ingegneria delle Telecomunicazioni
Quando una radiazione elettromagnetica incide sulla superficie di un materiale, possono verificarsi fenomeni di riflessione per cui la radiazione stessa può essere rinviata del tutto o in parte nello stesso mezzo dall'interfaccia che separa i due mezzi considerati, fenomeni di diffrazione per cui l'onda elettromagnetica incidente penetra nella zona d'ombra dell'ostacolo stesso a causa ad esempio dell'incidenza su spigoli che provoca onde da cammini multipli, e fenomeni di diffusione per cui la radiazione viene dispersa in tutte le direzioni a causa di particelle sospese presenti nel mezzo attraversato. Tale radiazione dispersa non è altro che il campo diffuso. La conoscenza del campo diffuso è di notevole importanza per lo studio dell'impatto sull'ambiente delle interazioni elettromagnetiche. Negli ultimi anni sono state sviluppate numerose tecniche di telerilevamento che hanno costituito e costituiscono tuttora una risorsa
importantissima per avere notizie su fenomeni naturali di varia natura e di pari rilevanza. Uno dei sistemi piu' noti per telerilevare i dati è il SAR , acronimo per radar ad antenna sintetica, grazie al quale è possibile poter lavorare in qualsiasi condizione climatica ed indipendentemente dall'ora del giorno e ricavare le proprietà fisiche di una porzione della superficie terrestre a partire dallaconoscenza del campo diffuso.Consci di questo fatto, affronteremo in questa tesi un rilevante problema di diffusione elettromagnetica. Come in ogni problema di questo tipo, vanno stabiliti due modelli:
- modello di superficie;
- modello elettromagnetico.
Per quanto riguarda il modello di superficie, sono stati sviluppati modelli classici che descrivono superfici naturali rugose attraverso processi stocastici bidimensionali che presentano una data densità di probabilità (di solito gaussiana) e funzione di correlazione (anch'essa gaussiana per superfici molto rugose o esponenziale per superfici poco rugose o una combinazione di esse). Tali modellisi scontrano però con la realtà dal momento che sono incapaci ed inadeguati per descrivere le superfici naturali che sono autosimilari, cioè presentano proprietà di invarianza di scala. Per tale motivo viene introdotta la geometria frattale. I modelli frattali piu' noti per superfici naturali sono il modello WM (Weierstrass-Mandelbrot) e il modello fBm (Fractional Brownian motion). L'fBm è un processo continuo non differenziabile in alcun punto ad incrementi stazionari. Il vantaggio derivante da quest'ultimo è dovuto al fatto che permette di ricavare in forma chiusa e semplice la densità di potenza diffusa (e quindi il coefficiente di backscattering o retrodiffusione) sia sotto l'approccio di Kirchhoff sia con l'utilizzo del modello elettromagnetico SPM (Small perturbation method), sotto particolari limiti di validità da non violare. Lo svantaggio principale è dovuto al fatto che esso non fornisce un'espressione analitica della superficie. Per risolvere tale problema può essere usata un'altra particolare funzione frattale, la WM a banda limitata, che bene approssima l'fBm. Per quanto riguarda il modello elettromagnetico, viene usato il metodo EBCM, acronimo per "Metodo delle condizioni al contorno estese".
La tesi è suddivisa in tre capitoli. Nel primo si evidenzia l'importanza della geometria frattale e vengono descritti i vantaggi e gli svantaggi dei due modelli di superfici frattali sopra citati, l'fBm e la WM. Nel secondo viene affrontato il problema della diffusione elettromagnetica da una superficie monodimensionale che separa due mezzi con permittività e permeabilità diverse. Gli esempi numerici vengono mostrati in relazione a una situazione in cui il profilo superficiale separa lo spazio libero da un mezzo dielettrico di permittività dielettrica r e , con le stesse permeabilità . Utilizzando la proprietà della WM di essere quasi-periodica, il campo diffuso e quello trasmesso risultano scritti come sovrapposizione finita di modi di Floquet espressi in termini di matrici di dimensioni infinite. Per poter avere una soluzione numerica del problema bisogna troncare le matrici in gioco.
Viene così mostrato un criterio di troncamento suffragato da varie considerazioni che ne evidenziano la fondatezza e l'efficienza. I risultati cui giungiamo sono in linea con le aspettative teoriche. Nel terzo capitolo, invece, viene affrontato lo stesso problema nel caso bidimensionale, nell'ipotesi in cui lo spazio dielettrico sia sostituito da un conduttore elettrico perfetto. Anche in tal caso il campo diffuso risulta scritto come sovrapposizione di modi e i risultati sperimentaliconfermano l'efficienza del modello usato.
In fondo, invece, vengono riportate delle appendici in cui sono mostrati i programmi realizzati col software Matematica 5.0, usati per testare e avvalorare il metodo implementato.
Log 4
=
D
In tutti i casi e ciò evidenzia che la dimensione della curva di von
Log 3
Koch è 1.2618. Quindi tale dimensione ci dice che quest’oggetto non è né una
compresa fra le due
linea né una superficie, ma è un qualcosa con una dimensione
e ci dà un'idea di quanto il frattale riempia il piano. Frattali di dimensione
prossima ad 1 saranno simili ad una curva, frattali di dimensione prossima a 2,
tenderanno ad occupare tutto il piano. Quindi la dimensione frattale misura
quanto è frastagliato e irregolare un oggetto.
1.3 Modelli di superfici frattali
I modelli frattali piu’ usati per superfici naturali sono due:
Weierstrass-Mandelbrot
-il modello WM ( );
Fractional Brownian motion
-il modello fBm ( ).
Il vantaggio principale derivante dall’uso del primo modello è quello di ottenere
un’espressione analitica della superficie, mentre l’uso del secondo modello
permette di ottenere un’espressione analitica della pdf degli incrementi della
superficie stessa. Tali modelli si usano nei problemi di scattering. In tal caso il
primo modello permette di ottenere un’espressione analitica del campo diffuso,
mentre il secondo di ricavare un’espressione in forma chiusa per la densità di
potenza diffusa, ed essendo tale espressione facile da manipolare, possiamo anche
valutare la dipendenza di quest’ultima dai parametri frattali. Lo svantaggio
apportato dal modello fBm è legato al fatto che possono essere valutate solo le
statistiche del secondo ordine.
1.4 Modello fBm
Un processo aleatorio z ( x , y ) descrive una superficie fBm se, per ogni x , x ' , y , y '
soddisfa la seguente relazione: η η
2
{ ( ) ( ) } 1
′ ′ η η
∫
− < = −
Pr z x , y z x , y exp d (1.4.1)
τ
π τ 2 2 H
H
2 s
2 s − ∞
dove 12
( ) ( )
′ ′
τ = − + −
2 2
x x y y (1.4.2)
s
è il coefficiene di Hurst ed è un parametro reale le cui dimensioni sono
H
[ ]
(1-H)
m . Quest’ultimo parametro è legato ad un altro, la Topotesia:
( )
−
= 1 H (1.4.3)
s T
dove è definita come la scala di osservazione a cui si osserva che la pendenza
T
media della superficie è unitaria. Si può dimostrare che un processo che soddisfa
l’equazione (1.4.1) esiste e che la dimensione frattale è:
.
D=3-
H
Notiamo ora che il processo fBm non è stazionario, ma i suoi incrementi a fissata
τ costituiscono un processo stazionario, isotropo e gaussiano a media nulla con
τ
−
2 2 H 2 H
varianza pari a . Per cui:
T ( )
( )
τ τ
−
∆ = 2 2 H 2 H
0
, (1.4.4)
z N T
Si può, inoltre, dimostrare che la potenza spettrale di un processo fBm
bidimensionale è: ( ) α
κ κ −
=
S S (1.4.5)
0
dove: κ κ κ
= +
2 2 (1.4.6)
x y 13
κ κ
è la frequenza spaziale ( e sono rispettivamente le trasformate di Fourier
y
x
α S
lungo x e y), è la pendenza dello spettro, e è un parametro spettrale misurato
0
[ ]
(2-2H)
m . Il legame tra parametri spaziali e spettrali è dato da:
in α = + = −
2 2 H 8 2 D (1.4.7)
( )
Γ +
1 H
π
= 2 2 H
S s 2 2 H (1.4.8)
( )
Γ −
0 1 H
Γ(⋅)
dove è la funzione Gamma di Eulero. Notiamo anche che dalla
α
disuguaglianza 0<H<1 discende la disuguaglianza 2< <4. E’ opportuno, inoltre,
evidenziare che una superficie che soddisfa l’equazione (1.4.1) è continua ma non
differenziabile. Perciò tale modello, che noi chiameremo fBm matematico, non
può essere usato nei modelli di diffusione elettromagnetica in cui si richiede la
continuità delle componenti tangenziali dei campi. Comunque, come detto
precedentemente, le superfici naturali esibiscono un comportamento frattale in un
vasto ma limitato range di scale; per cui, se indichiamo con L la dimensione
λ
lineare della superficie illuminata e con la lunghezza d’onda del campo
elettromagnetico, le scale che contribuiranno alla diffusione variano
λ L
nell’intervallo [ , ] . Per tale motivo, possiamo considerare il modello di
10
superficie fBm fisico, cioè un modello che soddisfa l’equazione (1.4.1) per
λ
τ τ τ τ τ
= =
< < L
con e o equivalentemente in termini di
min max
min max 10 1 1
κ κ
κ κ κ ≅ ≅
< < e . Ciò spiega
frequenze spaziali per con τ τ
min max
min max max min
anche perché tale modello viene chiamato fBm a banda limitata. Si può
dimostrare che le superfici fBm a banda limitata sono stazionarie e regolari.
Considerando, invece, un profilo monodimensionale le equazioni (1.4.1-2,5-8)
devono essere sostituite con : 14
η η
2
{ ( ) ( ) } 1
′ η η
∫
− < = −
z x z x d
Pr exp (1.4.9)
τ
π τ 2 2 H
H
s
2
s
2 − ∞
dove ′
τ = −
x x (1.4.10)
= − (1.4.11)
D H
2
α = + = −
H D
1 2 5 2 (1.4.12)
π
H 1
= 2
S s (1.4.13)
( ) ( )
π Γ −
0 H H
cos 1 2
κ κ
= (1.4.14)
x
1.5 Modello WM( Weierstrass-Mandelbrot)
La funzione di Weierstrass-Mandelbrot è una sovrapposizione di toni sinusoidali e
fornisce una descrizione analitica del profilo superficiale, sia monodimensionale
che bidimensionale. La WM monodimensionale matematica può essere descritta
tramite la seguente formula: +∞
∑ ν κ ν φ
−
= +
Hn n
z ( x ) a C sin( x )
n 0 n
= −∞
n
mentre per ottenere una WM fisica, basta troncare la sommatoria su M indici,
ottenendo: −
M 1
∑ ν κ ν φ
−
= +
Hn n
z ( x ) a C sin( x ) (
1
. 5
. 1
)
n 0 n
=
n 0
in cui:
a
- è un fattore di scala dell’altezza del profilo;
- C tiene conto del comportamento in’ ampiezza di ogni tono e può essere
n
deterministico oppure una variabile aleatoria di solito assunta gaussiana; 15
φ
- porta in conto il comportamento in fase di ogni tono, e può essere
n
deterministico oppure una variabile aleatoria di solito assunta uniforme in
π
un’intervallo di ampiezza 2 ;
κ è il numero d’onda della componente fondamentale;
- 0
ν > 1
- ,irrazionale, tiene conto di come sono spaziate le componenti spettrali della
superficie;
- è il numero di toni usati per descrivere la superficie;
M
- è il coefficiente di Hurst.
H
Dalla (1.5.1) si evince che lo spettro WM è formato da componenti spettrali
M
ν n
discrete spaziate secondo una legge mentre le ampiezze sono spaziate secondo
ν − Hn
una legge . Si può inoltre dimostrare che la funzione descritta dalla
= − . Si noti
appartiene alla classe dei frattali con dimensione frattale pari a D 2 H
che la funzione (1.5.1) è anche una funzione quasi-periodica, proprietà questa
fondamentale per poter applicare la teoria di Floquet generalizzata per studiare la
diffusione da interfacce quasi periodiche. La più bassa e la più alta delle
componenti spettrali della WM, sono relazionate rispettivamente alla lunghezza
λ
del profilo illuminato ed alla lunghezza d’onda . Infatti considerando due
L ] ]
( (
χ χ
∈ ∈
0
, 1 0
, 1
fattori di sicurezza e ,possiamo scrivere tali relazioni:
1 2 π χ
⋅
2
κ = 1 (1.5.2)
0 L π
2
κ ν − =
1
M (1.5.3)
λ χ
⋅
0 2
Facendo il rapporto tra la (1.5.3) e la (1.5.2) e applicando il logaritmo naturale ad
ambo i membri, si ricava tale espressione per il numero di toni:
λ χ
⋅
ln( L ( ))
= + (1.5.4)
M INT 1
ν
ln( )
dove INT (⋅
) è la funzione che restituisce la parte intera del proprio argomento,
χ χ χ
= ⋅
mentre .
1 2
Analogamente la WM matematica bidimensionale può essere descritta
analiticamente in tal modo: 16
[ ]
∞
( ) ( )
∑ ν κ ν ψ ψ φ
−
= + +
Hn n (1.5.5)
z x y a C x y
, sin cos sin
n 0 n n n
= −∞
n
I parametri in gioco assumono lo stesso significato che assumono nel caso
ψ
monodimensionale. Inoltre anche , che tiene conto del comportamento in
n
direzione di ogni tono, può essere o deterministico oppure una variabile aleatoria
π
uniforme in un intervallo di ampiezza 2 . Anche in tal caso per avere una WM
fisica basta troncare la (1.5.5) su M indici, ottenendo:
[ ]
−
M 1
( ) ( )
∑ ν κ ν ψ ψ φ
−
= + +
Hn n (1.5.6)
z x y a C x y
, sin cos sin
n 0 n n n
=
n 0
La (1.5.6) descrive una superficie naturale bidimensionale con dimensione frattale
pari a D=3-H.
In tal caso la componente spettrale piu’ bassa è legata al diametro dell’impronta
(footprint) dell’antenna sulla superficie, mentre quella piu’ alta è relazionata alla
+
2 2
X Y X Y
lunghezza d’onda. Per cui se ( , ) è il footprint dell’antenna e il suo
diametro, si avranno le seguenti relazioni: π
2
κ κ
= = (1.5.7)
min 0 +
2 2
X Y
π
2
κ κ ν −
= =
( 1
)
M (1.5.8)
χ λ
⋅
max 0
χ =
con 0 . 1 di solito.
Le (1.5.7) e (1.5.8) determinano congiuntamente il numero di toni della WM
fisica, pari a:
χ λ
+ ⋅
2 2
ln( X Y ( ) )
= +
M INT 1 (1.5.9)
ν
ln
INT
dove (⋅
) è la funzione che restituisce la parte intera del proprio argomento. 17
1.6 Legame tra fBm e WM
La WM può essere vista come una rappresentazione di un fBm con la stessa
dimensione frattale, campionata alle frequenze spaziali discrete:
κ κ ν
= n (1.6.1)
0
n
I parametri della WM sono legati a quelli dell’fBm dalle relazioni:
S −
κ ν ν −
= −
2 H
2 H H
0
a ( )
π 0
H
2 ⇓ (1.6.2)
1
π κ
= 2 H
2
2
S Ha ν ν −
−
0 0 H H
( ) 18
CAPITOLO 2
Un nuovo modello elettromagnetico: EBCM applicato a
superfici frattali 1-D
2.1 Introduzione
In questo capitolo affronteremo il problema della diffusione da superfici frattali
descritte dalla Weierstrass-Mandelbrot monodimensionale all’interno di un nuovo
modello elettromagnetico, l’EBCM acronimo per metodo delle condizioni al
contorno estese. Tale metodo è stato usato per valutare il campo diffuso da una
superficie periodica o quasi-periodica e il punto chiave della procedura è la
proprietà della WM di essere una funzione quasi-periodica, la qual cosa favorisce
la generalizzazione della teoria di Floquet che permette di esprimere campo
diffuso e campo trasmesso come sovrapposizione di modi. L’efficienza del
metodo viene testata sia attraverso considerazioni sul bilancio energetico che sui
diagrammi di irradiazione diffusi.
La rilevanza del metodo è legata al fatto che in linea di principio non dobbiamo
imporre alcuna restrizione sulla rugosità della superficie, per cui esso è applicabile
a qualsiasi tipo di profilo. Tuttavia il campo diffuso viene scritto sotto forma di
una serie di infiniti termini di coefficienti di ampiezza, per cui in linea di principio
dovremmo risolvere un sistema lineare di infinite equazioni (matriciali). Per avere
delle soluzioni numeriche è perciò necessario troncare la serie e risolvere di
conseguenza un problema di rango finito. In tal caso va discusso
approfonditamente il criterio di troncamento in modo da evitare di avere
degradazioni significative nella valutazione del campo diffuso e di ottenere
risultati inaspettati o del tutto erronei. A tale scopo le nostre argomentazioni
saranno focalizzate sul come intervengono nel campo diffuso i vari modi, facendo
uno studio sui parametri del profilo superficiale considerato. 19
2.2 Modello del profilo superficiale
Il profilo superficiale separa due semispazi dielettrici ognuno con le proprie
µ µ ε ε
, ,
permeabilità magnetiche e permittività dielettriche assolute . Per
1 2 1 2
come è stato concepito il profilo geometrico-superficiale, useremo una funzione
WM a banda limitata che è appropriata per descrivere superfici naturali. Tale
funzione è già stata introdotta nel capitolo 1 e si tratta della (1.5.1).
2.3 EBCM (Extended Boundary conditions method)
In tale paragrafo useremo l’EBCM per valutare il campo elettromagnetico diffuso
da un profilo dielettrico monodimensionale descritto in accordo con la (1.5.1),
quando su di esso incide un’onda piana.
2.3.1 Equazioni integrali
Il metodo EBCM si basa in sostanza sul teorema di equivalenza. A tale scopo
vengono fissati due insiemi di sorgenti equivalenti relazionati ai campi tangenziali
sul profilo sotto osservazione. Il primo insieme irradia il campo elettromagnetico
diffuso al di sopra del profilo superficiale mentre cancella il campo incidente al di
sotto del profilo stesso. Il secondo irradia il campo trasmesso al di sotto del
profilo considerato, mentre al di sopra irradia un campo nullo. Queste
considerazioni possono essere tradotte in tali formule analitiche:
( ) ( ) ( ) ( ) ( )
′ ′ ′ ′ ′ ′ ′
ψ ψ ψ
∫
+ ⋅ ∇ − ⋅ ∇ =
ˆ ˆ
r d S r n g r, r g r, r n r
i 1 1 1 1
S ( )
ψ >
r z z ' ( x ' ) (2.3.1.1)
= 1
<
0 z z ' ( x ' ) (2.3.1.2)
( ) ( ) ( ) ( )
′ ′ ∇′ ′ ′ ∇′ ′
ψ ψ
∫ ⋅ − ⋅ =
ˆ ˆ
d
S r n g r, r g r, r n r